贵金属分析仪 型号:ZXYD/EDX3000D
对贵金属进行分析和克拉级别鉴定
目前使用XRF分析仪对贵金属进行化学成份分析及纯度成色判断已经成为一种应用、并且有标准的支持， 且性能的方法。与火花试金法和化学试剂测试法相比，使用XRF对贵金属进行分析是一种更迅速、更经济的多元素检测方法。
分析仪为用户提供了一种操作方便，且高的检测技术：无需将 检测工具探入到被测样件的材料中，也不会损坏被测样件，即可获得样件的合金化学成份信息，判断岀样件的克拉等级。无论您是 购买黄金等贵金属，还是岀售或生产珠宝，或是制造金属，抑或是回收废旧金属，您都需要一种可以地判断克拉等级 以及其它贵金属与非贵金属含量的快速方法，在时间，以有效地控制产品质量，制定合理的价格。
ELEMENT EDX3000D分析仪可以迅速得到各种类型样品的分析结果。
ELEMENT Instrument分析的和特点
。高分辨率、清摄像头、便捷操作、快检测速度、人性化界面
。易于使用，一键操作，即可获得克拉等级及组成成份的分析结果
。有助于识别镀金样件的创功能
。机身结构小巧结实，外形漂亮，适合放置于陈列展室
。按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件的化学成份和克拉等级的结果
。使用pc机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
。用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户对测试信心 。EDX3000D分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享 。有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线的保证客户使用
EDX3000D台式XRF分析仪
硬件性能
高分辨率、清摄像头、便捷操作
快检测速度、人性化界面
贵金属分析仪 型号:ZXYD/EDX3000D
清摄像头
光管电压5KV~50KV
高压电源 0~50KVSpellman(USA)
光管管流0nA~ 1000nA
滤光片可选择多种定制切换
探测器Si-pin/SDD(可选)
分辨率 Si-pin160 ± 5eV/SDD135 ± 5eV
多道分析器 ELEMENT INSTRUMENT-DMCP 样品腔尺寸310*280*60 (mm)
测试时间30sec ~ 10Osec
应用和示例
测试贵金属Au、Pt、Ag、Pd的分析 现场对黄金进行克拉级别鉴定：0-24kt 核查废旧金属中的金含量
对杂质材料进行辨别
辨别未知金属
EDX系列仪器应用演示
2、放入样品
3、点击“开始"按钮，测量完成,显示分析结果
仪器性能及配置
分析范围1 ppm to 100 %
精度 RSDwO.05% Aum90%
测试样品的物理状态固体、粉末、液体
感兴趣元素贵金属 Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, W, Os, Ir, etc. 基本金属 Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb, etc.
仪器环境要求
环境温度15。C~30。C
相对湿度35% ~ 70%
电源要求AC 220V ± 5V, 50/60HZ
分析软件FP定性定量分析软件
外部尺寸380*372*362 (mm)
重量29Kg
