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介电常数及介质损耗测试仪  型号:M166800

介电常数及介质损耗测试仪 型号:M166800

简要描述:
介电常数及介质损耗测试仪 型号:M166800

介电常数及介质损耗测试仪STD-A,显示电容、频率等中间值,需代入公式计算出介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。检测固体材料。

产品时间:2022-05-05

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介电常数及介质损耗测试仪  型号:M166800

介电常数及介质损耗测试仪STD-A,显示电容、频率等中间值,需代入公式计算出介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。检测固体材料。
介电常数及介质损耗测试仪  型号:M166800

STD-A介电常数测试仪
一、概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准:GB/T5594.4-1985。
二、仪器的技术指标
1.Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023;
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
c.标称误差
频率范围10kHz~10MHz
固有误差≤5%±满度值的2%
工作误差≤7%±满度值的2%
频率范围10MHz~70MHz
固有误差≤6%±满度值的2%
工作误差≤8%±满度值的2%
  2.电感测量范围:1nH~8.4H
3.电容测量:
直接测量范围1~520p
主电容调节范围30~550pF
准确度100pF以下±1pF;
100pF以上±1%
注:大于直接测量范围的电容测量见使用方法。
4.信号源频率覆盖范围:
频率范围10kHz~70MHz
CH110~99.9999kHz
CH2100~999.999kHz
CH31~9.99999MHz
CH410~70MHz
频率指示误差3×10-5±1个字
5.Q合格指示预置功能:预置范围:5~1000
  6.Q表正常工作条件
a.  环境温度:0℃~+40℃;
b.相对湿度:<80%;
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.消耗功率:约25W;
8、选配液体杯,可做液体材料的检测。
9.样品尺寸:固体:材料测量直径 Φ38mm;厚度可调 < 15mm ;
仪器配置:含STD-A测试主机1台,样品夹具1套,电感1组(9个),如需选配液体杯,费用另计。

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