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台式硅酸根仪/二氧化硅分析仪 XN84GXF-215C

台式硅酸根仪/二氧化硅分析仪 XN84GXF-215C

简要描述:
台式硅酸根仪/二氧化硅分析仪 XN84GXF-215C

技术参数
测量范围 0~199.9μg/LSiO2
基本误差≤±2.5%FS
重复性误差≤±0.5%FS

产品时间:2023-03-06

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厂商性质:生产厂家

生产地址:

台式硅酸根仪/二氧化硅分析仪 XN84GXF-215C

技术参数
测量范围 0~199.9μg/LSiO2
基本误差≤±2.5%FS
重复性误差≤±0.5%FS
短期漂移(30分钟) : ≤±0.5%FS
长期漂移(24小时) : ≤±2.5%FS
化学方法 :硅钼兰光度法GB 12150—89


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