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涡流测厚仪 型号：TX20-ED400
仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
涡流测厚仪 型号：TX20-ED400
技术参数
测量范围： 0～500 μm
测量精度： 0～50 μm：±1 μm；
50～500 μm：±2%
分辨率： 0～50 μm：0.1 μm；
50～500 μm：1 μm；
0～500 μm：1 μm（可选）
使用温度： 5～45℃
外形尺寸： 150 mm×80 mm×30 mm
重量： 280 g
涡流测厚仪 型号：TX20-ED400
仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
涡流测厚仪 型号：TX20-ED400
技术参数
测量范围： 0～500 μm
测量精度： 0～50 μm：±1 μm；
50～500 μm：±2%
分辨率： 0～50 μm：0.1 μm；
50～500 μm：1 μm；
0～500 μm：1 μm（可选）
使用温度： 5～45℃
外形尺寸： 150 mm×80 mm×30 mm
重量： 280 g
