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半导体分力器件测试仪 型号:VV522-CS2935

半导体分力器件测试仪 型号:VV522-CS2935

简要描述:
半导体分力器件测试仪 型号:VV522-CS2935

二、测试参数
1. 二极管
VF、IR、BVR
2. 稳压(齐纳)二极管
VF、IR、BV Z
3. 晶体管 Transistor(NPN型/PNP型)

产品时间:2023-05-18

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半导体分力器件测试仪 型号:VV522-CS2935

一、产品特点:
测试品种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和一致性、工作稳定,具有保护系统和被测器件的能力。测试仪由计算机操控,测试数据可存储打印。除具有点测试功能外,还具有曲线扫描功能(图示仪功能)。系统软件功能全、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定、硬件故障率低,在实际测试应用中各项技术指标均可达到器件手册技术指标及国标要求。

半导体分力器件测试仪 型号:VV522-CS2935

二、测试参数
1. 二极管
VF、IR、BVR
2. 稳压(齐纳)二极管
VF、IR、BV Z
3. 晶体管 Transistor(NPN型/PNP型)
VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
4. 可控硅整流器(晶闸管)
IGT、VGT、 IH、IL 、VTM
5. 场效应管
IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS
6. 光电耦合器
VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
*7.三端稳压器
VO、SV、ID、IDV
被测器件图形
三、测试参数范围
晶体管
测试参数
测试范围
ICEO
ICBO
IEBO
1nA-100nA
100nA-1uA
1uA-100uA
100uA-10mA
VCE(sat)
VBE(sat)
0.10V-30V
VBE(VBE(on))
0.10V-30V
hFE
1-99999
V(BR)EBO
0.10V-30V
V(BR)CEO
V(BR)CBO
0. 10V-50V
50V-1499V
二极管
测试参数
测试范围
IR
1nA-100nA
100nA-1uA
1uA-100uA
100uA-10mA
VF
0.10V-30V
V(BR)
1V-50V
50V-1499V
稳压二极管
测试参数
测试范围
IR
1nA-100nA
100nA-1uA
1uA-100uA
100uA-10mA
VF
0.10V-30V
VZ
0.10V-50V
三端稳压器

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