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激光平面干涉仪  CE36-INF60-LP/M107501

激光平面干涉仪 CE36-INF60-LP/M107501

简要描述:
激光平面干涉仪 CE36-INF60-LP/M107501​
大测量口径:Φ60mm
测量方式:菲索干涉原理
光源:半导体激光器(635nm)

产品时间:2019-06-13

访问量:835

厂商性质:生产厂家

生产地址:

激光平面干涉仪  CE36-INF60-LP/M107501

紧凑结构、小型化、防尘效果好
批量检测平面光学元件表面面型测量。

激光平面干涉仪  CE36-INF60-LP/M107501
大测量口径:Φ60mm
测量方式:菲索干涉原理
光源:半导体激光器(635nm)
对准方式:简单两点对准
标准参照镜面形精度:p-v:λ/20

 

 

激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪激光平面干涉仪

 

 

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