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平均粒度测定仪 型号:HX03-WLP-216A

平均粒度测定仪 型号:HX03-WLP-216A

简要描述:
平均粒度测定仪 型号:HX03-WLP-216A

技术指标
检测原理:空气透过法(费氏粒度法)
粒度测量区间:0.1μm ~ 50μm
适配孔隙度区间:0.25~0.40、0.40~0.80、0.80~0.95
检测重复性:<3%
单次检测时长:<1min

产品时间:2026-08-14

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厂商性质:生产厂家

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平均粒度测定仪 型号:HX03-WLP-216A

工作原理
仪器基于稳态空气渗丨透法原理:恒定气流匀速穿过压实粉末样品床,气体透过速率由粉末颗粒粒径、颗粒形貌、样品床孔隙度共同决定。 输入粉体形貌系数、控制孔隙度后,设备通过内置算法自动运算,直接输出粉末平均粒度与比表面积数值
平均粒度测定仪 型号:HX03-WLP-216A

技术指标
检测原理:空气透过法(费氏粒度法)
粒度测量区间:0.1μm ~ 50μm
适配孔隙度区间:0.25~0.40、0.40~0.80、0.80~0.95
检测重复性:<3%
单次检测时长:<1min
供电规格:220V/50-60Hz
整机功率:60W
主机外形尺寸:57×59×25cm
设备重量:主机 17kg,配套工控电脑 2.6kg
工作环境:温度 25±10℃,相对湿度≤80%,无腐蚀、无震动环境


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