薄件穿透测厚仪 型号:HFD-730
采用声波测量原理，适用于能使声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。
此仪器可对板材和加工零件做准确测量，另一方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
主要功能
● 采用“回波-回波"技术，可以实现薄件的测量，zui小厚度（钢）可达0.15mm；另一方面可以实现高精度测厚，分辩率可达0.001mm；还可以穿透表面镀层厚度测量基材厚度；
● 增加穿透涂层测量基体厚度功能 ，表面涂层小于500um；
● 两种测量：模式底波-回波模式满足常规厚工件测量；回波-回波模式满足薄工件测量精度高）；
● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零；
● 有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；
● 具有声速校准（反测声速）或单点校准功能；
● 可以进行报警设置和差值模式设置；
● 公英制转换；毫米和英寸可切换单位；
● 可存储5种不同材料的声速。
适用材料
适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他声波的良导体的厚度。
基本原理
声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
薄件穿透测厚仪 型号:HFD-730
规格参数
名称： 730
探头类型单晶
测量范围普通I-E模式：0.15mm～30mm(钢)
穿透E-E模式：0.5mm～10mm(钢)，大穿透涂层厚度0.5mm
测量频率15MHz、20MHz 单晶
显示分辨率0.01mm、0.001mm
声速范围1000-9999m/s
显示128*64 LCD显示，LED背光
示指误差±0.005mm(5mm以下) ±0.01mm (5-30mm)，
自动关机5分钟无操作后自动关机
工作温度-10℃～＋50℃，有特殊要求可达-20℃
工作电压两节5#1.5V AA电池，当电量不足时，有低电压提示
操作时间碱性电池长可使用200小时（不使用背光）
数据存储500个数值存储功能
默认储存声速可存储5种不同材料的声速，并且连续特调。
外形尺寸153mm*67mm*26 mm
整机重量220g
标准配置主机1台、15MHz单晶探头1支、延迟块1个、耦合剂1瓶、5号电池2节、文件1套
